Pregled bibliografske jedinice broj: 817650
ANALYSIS OF THE SURFACE LAYER ON Ge DOTS IN SiO2 MATRIX
ANALYSIS OF THE SURFACE LAYER ON Ge DOTS IN SiO2 MATRIX // EMRS Spring meeting 2016, PROGRAMME AND BOOK OF ABSTRACTS
Lille, 2016. str. T-19 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, ostalo)
CROSBI ID: 817650 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
ANALYSIS OF THE SURFACE LAYER ON Ge DOTS IN SiO2 MATRIX
Autori
Pivac, Branko ; Dubček, Pavo ; Dasović, Jasna ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid ;
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, ostalo
Izvornik
EMRS Spring meeting 2016, PROGRAMME AND BOOK OF ABSTRACTS
/ - Lille, 2016, T-19
Skup
EMRS Spring meeting 2016
Mjesto i datum
Lille, Francuska, 02.05.2016. - 06.05.2016
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
Ge; nanoparticles; SAXS; XRD;
Sažetak
A
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-0982886-2866 - Temeljna svojstva nanostruktura i defekata u poluvodičima i dielektricima (Pivac, Branko, MZOS ) ( CroRIS)
HRZZ-IP-2013-11-6135 - Poluvodičke kvantne strukture za napredne sklopove (QD STRUCTURES) (Pivac, Branko, HRZZ - 2013-11) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb
