Pregled bibliografske jedinice broj: 463079
Temperature dependence of SIMS depth profiles of Ag109/Ag107 bilayers
Temperature dependence of SIMS depth profiles of Ag109/Ag107 bilayers // Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS-IX / A.Benninghoven, Y.Nihei, R.Shimizu and H.W.Werner (ur.).
Chichester: John Wiley & Sons, 1994. (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
CROSBI ID: 463079 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Temperature dependence of SIMS depth profiles of Ag109/Ag107 bilayers
Autori
King, B.V. ; Petravić, Mladen ; Elliman, R.G. ; Chater, R.J.
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni
Izvornik
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS-IX
/ A.Benninghoven, Y.Nihei, R.Shimizu and H.W.Werner - Chichester : John Wiley & Sons, 1994
Skup
9th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS IX
Mjesto i datum
Yokohama, Japan, 07.11.1993. - 12.11.1993
Vrsta sudjelovanja
Predavanje
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
SIMS; depth profiling; Ag109/Ag107 layers
(SIMS; depth profiling; Ag109/Ag107 layer)
Sažetak
SIMS, depth profiling of Ag109/Ag107 bilayers
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
