Pregled bibliografske jedinice broj: 449439
Chemical Reactions in Si under Reactive Ion Bombardment: How does it Affect SIMS?
Chemical Reactions in Si under Reactive Ion Bombardment: How does it Affect SIMS? // APEC Workshop on Surface Analysis of New Materials, 2000.
Daejeon, Republika Koreja, 2000. (plenarno, nije recenziran, pp prezentacija, znanstveni)
CROSBI ID: 449439 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Chemical Reactions in Si under Reactive Ion Bombardment: How does it Affect SIMS?
Autori
Petravić, M.
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, pp prezentacija, znanstveni
Skup
APEC Workshop on Surface Analysis of New Materials, 2000.
Mjesto i datum
Daejeon, Republika Koreja, 2000
Vrsta sudjelovanja
Plenarno
Vrsta recenzije
Nije recenziran
Ključne riječi
SIMS
Sažetak
Secondary Ion Mass Spectroscopy
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
