Pretražite po imenu i prezimenu autora, mentora, urednika, prevoditelja

Napredna pretraga

Pregled bibliografske jedinice broj: 448747

Raman scattering on porous silicon


Ivanda, Mile; Balarin, Maja; Gamulin, Ozren; Ristić, Davor; Musić, Svetozar; Ristić, Mira; Kosović, Marin; Furić, Krešimir
Raman scattering on porous silicon // MIPRO 2009 32nd International Convention, Proceedings of MEET and GVS conferences / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009. str. 58-61 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)


CROSBI ID: 448747 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca

Naslov
Raman scattering on porous silicon

Autori
Ivanda, Mile ; Balarin, Maja ; Gamulin, Ozren ; Ristić, Davor ; Musić, Svetozar ; Ristić, Mira ; Kosović, Marin ; Furić, Krešimir

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni

Izvornik
MIPRO 2009 32nd International Convention, Proceedings of MEET and GVS conferences / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj - Rijeka : Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009, 58-61

ISBN
978-953-233-044-1

Skup
MIPRO 2009 32nd International Convention

Mjesto i datum
Opatija, Hrvatska, 25.05.2009. - 29.05.2009

Vrsta sudjelovanja
Predavanje

Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija

Ključne riječi
Porous silicon; Raman spectroscopy; SEM

Sažetak
Porous silicon (PSi) samples were prepared by electrochemical etching of silicon-on-insulator wafers, consisting of 22 μm thick p-type (111) silicon epitaxial layer on a 1 μm SiO2 layer on silicon substrates, by varying the concentration of 48% HF in ethanol solution and by varying the etching time. Within the epitaxial layer micro- and nano-pores of different sizes in dependence on HF concentration and etching time were obtained. The structural and optical properties of prepared samples were investigated by Raman spectroscopy, and scanning electron microscopy (SEM). SEM images showed high density of micrometer sized pores separated by the cobweb-like silicon structures whose morphology and density depend on the HF concentration and etching time. The Raman spectra of such structures show transversal optical TO(gama) phonon bands that were broadened and red-shifted depending on the size of cobweb wires. The diameter distributions of the cobweb wires where determined by applying the phonon confinement model. When compared to the SEM diameters, they were 3-4 times smaller indicating the sub-structure, not observable by SEM microscopy that exists in silicon wires.

Izvorni jezik
Engleski

Znanstvena područja
Fizika, Kemija



POVEZANOST RADA


Projekti:
098-0982904-2898 - Fizika i primjena nanostruktura i volumne tvari (Ivanda, Mile, MZOS ) ( CroRIS)
098-0982904-2952 - Sinteza i mikrostruktura metalnih oksida i oksidnih stakala (Ristić, Mira, MZOS ) ( CroRIS)
108-1080134-3105 - Mehanizmi narušavanja strukture lipoproteina djelovanjem vanjskih čimbenika (Gamulin, Ozren, MZOS ) ( CroRIS)

Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb,
Medicinski fakultet, Zagreb


Citiraj ovu publikaciju:

Ivanda, Mile; Balarin, Maja; Gamulin, Ozren; Ristić, Davor; Musić, Svetozar; Ristić, Mira; Kosović, Marin; Furić, Krešimir
Raman scattering on porous silicon // MIPRO 2009 32nd International Convention, Proceedings of MEET and GVS conferences / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009. str. 58-61 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
Ivanda, M., Balarin, M., Gamulin, O., Ristić, D., Musić, S., Ristić, M., Kosović, M. & Furić, K. (2009) Raman scattering on porous silicon. U: Biljanović, P. & Skala, K. (ur.)MIPRO 2009 32nd International Convention, Proceedings of MEET and GVS conferences.
@article{article, author = {Ivanda, Mile and Balarin, Maja and Gamulin, Ozren and Risti\'{c}, Davor and Musi\'{c}, Svetozar and Risti\'{c}, Mira and Kosovi\'{c}, Marin and Furi\'{c}, Kre\v{s}imir}, year = {2009}, pages = {58-61}, keywords = {Porous silicon, Raman spectroscopy, SEM}, isbn = {978-953-233-044-1}, title = {Raman scattering on porous silicon}, keyword = {Porous silicon, Raman spectroscopy, SEM}, publisher = {Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO}, publisherplace = {Opatija, Hrvatska} }
@article{article, author = {Ivanda, Mile and Balarin, Maja and Gamulin, Ozren and Risti\'{c}, Davor and Musi\'{c}, Svetozar and Risti\'{c}, Mira and Kosovi\'{c}, Marin and Furi\'{c}, Kre\v{s}imir}, year = {2009}, pages = {58-61}, keywords = {Porous silicon, Raman spectroscopy, SEM}, isbn = {978-953-233-044-1}, title = {Raman scattering on porous silicon}, keyword = {Porous silicon, Raman spectroscopy, SEM}, publisher = {Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO}, publisherplace = {Opatija, Hrvatska} }




Contrast
Increase Font
Decrease Font
Dyslexic Font