Pregled bibliografske jedinice broj: 447268
Strukturna i optička svojstva tankih filmova silicija
Strukturna i optička svojstva tankih filmova silicija, 2007., diplomski rad, Prirodoslovno matematički fakultet, Zagreb
CROSBI ID: 447268 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Strukturna i optička svojstva tankih filmova silicija
(Structural and optical properties of Si thin films)
Autori
Belić, Domagoj
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad
Fakultet
Prirodoslovno matematički fakultet
Mjesto
Zagreb
Datum
15.03
Godina
2007
Stranica
44
Mentor
Tonejc, Antun
Ključne riječi
amorfni poluvodiči ; nanokristalni poluvodiči ; solarna ćelija
(smorphous semiconductors ; nanocrystalline semiconductors ; solar cells)
Sažetak
U ovom diplomskom radu proučavani su tanki filmovi silicija s ciljem nalaženja veze između njihovih strukturnih i optičkih svojstava. Tanki filmovi pripravljeni metodom plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) sastojali su se od amorfnog hidrogeniziranog silicija (a-Si:H) koji je sadržavao određeni postotak kristalita nanometarskih dimenzija kvantnih točaka. Istraživanje strukturnih svojstava obuhvatilo je određivanje postotka kristaliničnosti tankih filmova i veličinu pojedinih kristalitalkvantnih točaka. Od optičkih svojstava određivani su optički energijski procjep i kvantna efikasnost te je zatim tražena njihova korelacija s izmjerenim strukturnim svojstvima.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
MZOS-119-0982886-1009 - Struktura i svojstva posebnih nanomaterijala dobivenih suvremenim tehnikama (Tonejc, Antun, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb