Pregled bibliografske jedinice broj: 440877
Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica,
Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica, // 6. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva : Knjiga sažetaka / Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 2009. str. 43-43 (predavanje, nije recenziran, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 440877 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica,
(Structural properties of semiconductor nanoparticles)
Autori
Buljan, Maja ; Desnica, Uroš V. ; Radić, Nikola ; Bogdanović Radović, Ivančica ; Ivanda, Mile ; Dražić, Goran ; Karlušić, Marko ; Dubček, Pavo ; Salamon, K. ; Holy, V.
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
6. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva : Knjiga sažetaka
/ Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor - Zagreb : Hrvatsko fizikalno društvo, 2009, 43-43
ISBN
978-953-7178-12-3
Skup
Znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva (6 ; 2009)
Mjesto i datum
Primošten, Hrvatska, 08.10.2009. - 11.10.2009
Vrsta sudjelovanja
Predavanje
Vrsta recenzije
Nije recenziran
Ključne riječi
poluvodičke nanočestice; samoorganizirajuće Ge nanočestice; SiO2; GISAX
(semiconductor nanoparticles; selforganizing Ge nanoparticles; SiO2; GISAX)
Sažetak
Istraživanje poluvodičkih nanočestica interesantno je iz temeljnih fi- zičkih razloga kao i zbog velikih mogućnosti primjene nanočestičnih materijala. Svojstva takvih materijala uvelike su određena veličinom, oblikom i prostornim rasporedom nanočestica u podlozi u kojoj su nanočestice pripremljene, te unutrašnjom strukturom i sastavom samih nanočestica te prisutnosti defekata u njihovoj kristalnoj strukturi. U predavanju ću izložiti najnovije metode priprave nanočestičnih materijala sa samoorganiziranim Ge nanočesticama u amorfnoj SiO2 podlozi, i metode detaljne karakterizacije dobivenih materijala bazirane na X-zračenju. Metode priprave uključuju formaciju prostorno uređenih Ge nanočestica pomoću ozračivanja Ge+SiO2 višeslojeva kisikovim ionima i posredstvom djelovanja mehanizma morfologije površine tijekom depozicije rasprašenjem u magnetronskom izvoru čestica [1, 2]. Metode karakterizacije uključuju analizu GISAXS (Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering) spektara i difrakcijskih spektara izmjerenih na nanočestičnim materijalima.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-0982886-2866 - Temeljna svojstva nanostruktura i defekata u poluvodičima i dielektricima (Pivac, Branko, MZOS ) ( CroRIS)
098-0982904-2898 - Fizika i primjena nanostruktura i volumne tvari (Ivanda, Mile, MZOS ) ( CroRIS)
098-1191005-2876 - Procesi interakcije ionskih snopova i nanostrukture (Jakšić, Milko, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb
Profili:
Marko Karlušić
(autor)
Ivančica Bogdanović Radović
(autor)
Nikola Radić
(autor)
Mile Ivanda
(autor)
Uroš Desnica
(autor)
Maja Mičetić
(autor)
Pavo Dubček
(autor)