Naslov
Karakterizacija na nanoljestvici - izazov nanometrologije
(Nanocharacterization - the challenge of nanometrology)

Autori
Risović, Dubravko

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni

Izvornik
Kompetentnost Laboratorija 2007-novi pristup Knjiga sažetaka / Margeta, Karmen ; Krstelj, Vjera - Zagreb : CROLAB - Hrvatski laboratoriji, 2007, 6-7

ISBN
978-953-7329-02-0

Skup
Drugo međunarodno savjetovanje Kompetentnost Laboratorija 2007-novi pristup

Mjesto i datum
Cavtat, Hrvatska, 18.10.2007. - 20.10.2007

Vrsta sudjelovanja
Pozvano predavanje

Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija

Ključne riječi
metrologija; nanometrologija; nanokarakterizacija
(metrology; nanometrology; nanocharacterization)

Sažetak
Nanotehnologija uključuje manipulaciju materije na nanometarskoj ljestvici duljine s ciljem stvaranja nanostruktura s jedinstvenim svojstvima. Napredak u temeljnim nanoznanostima, dizajnu novih nanomaterijala i u konačnosti izradi proizvoda utemeljenih na novim nanotehnologijama u znatnoj mjeri ovise o mogućnosti da se točno i reproducibilno mjere svojstva i značajke performansi na nanoljestvici. Metrologija sukladna sa sustavima na nanoljestvici je kritičan preduvjet za razvoj nanotehnologije, kako na razini temeljnog znanstvenog razumijevanja tih sustava , tako i na razini komercijalnih aktivnosti. U tom kontekstu može se identificirati pet kritičnih područja nanometrologije: nanokarakterizacija, nanomehanika, nanoelektromegnetika i fotonika te nanoizrada i proizvodnja. U ovom predavanju dan je kratki pregled aktualnog stanja kao i ciljeva, zapreka i mogućih riješenja u području nanokarakterizacije.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika, Kemijsko inženjerstvo, Temeljne tehničke znanosti

POVEZANOST RADA