Pregled bibliografske jedinice broj: 322808
Istraživanje strukturnih i optičkih svojstava poroznog silicija
Istraživanje strukturnih i optičkih svojstava poroznog silicija // Knjiga sažetaka 5. znanstvenog sastanka Hrvatskog fizikalnog društva / Dulčić, Antonije (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 2007. (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 322808 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Istraživanje strukturnih i optičkih svojstava poroznog silicija
(Investigation of structural and optical properties of porous silicon)
Autori
Balarin, Maja ; Gamulin, Ozren ; Kosović, Marin ; Ivanda, Mile ; Ristić, Mira ; Musić, Svetozar ; Furić, Krešimir
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
Knjiga sažetaka 5. znanstvenog sastanka Hrvatskog fizikalnog društva
/ Dulčić, Antonije - Zagreb : Hrvatsko fizikalno društvo, 2007
ISBN
978-953-7178-10-9
Skup
Peti znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva
Mjesto i datum
Primošten, Hrvatska, 05.10.2007. - 08.10.2007
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Domaća recenzija
Ključne riječi
Porozni silicij; Ramanova spektroskopija; FT-IR; SEM
(Porous silicon; Raman spectroscipy; FT-IR; SEM)
Sažetak
Uzorci poroznog silicija (PSi) pripremljeni su elektrokemijskim jetkanjem silicij na izolatoru (SOI) pločica koje imaju 45 μ m debeli površinski sloj p-tipa (111) silicija na podlozi od n-tipa. Kao izolator između ta dva sloja je 100 nm debeli sloj silicijevog dioksida (SiO2). Promijenom koncentracije otopine 48% fluorovodične kiseline u 96% etanolu dobivene su, ovisno o koncentraciji, mikro i nano pore različitih dimenzija. Strukturna i optička svojstva pripremljenih uzoraka istraživana su Ramanovom spektroskopijom, infrecrvenom spektroskopijom (FT-IR) i elektronskom mikroskopijom (SEM). SEM slike površinskog sloja pokazuju veliku gustoću mikrometarskih pora čija je morfologija i gustoća ovisna o koncentaciji. Slike podloge pokazuju nanometarske strukture koje su potvrđene efektima prostornog ograničenja optičkih i akustičkih fonona u Ramanovim spektrima. Proširena je trasverzalna optička vibracijska vrpca kristalnog silicija na 520 cm-1, a istodobno se pojavila široka transverzalna akustička fononska vibracijska vrpca na 150 cm-1 karakteristična za ograničenje kratkog dosega. FT-IR spektri pokazuju vibracijske vrpce Si-Hx i H-Si(Si3-nOn) grupa u rasponu od 2000 to 2300 cm-1. Svi uzorci pokazali su i fotoluminiscentnu (PL)vrpcu.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-0982904-2898 - Fizika i primjena nanostruktura i volumne tvari (Ivanda, Mile, MZOS ) ( CroRIS)
098-0982904-2952 - Sinteza i mikrostruktura metalnih oksida i oksidnih stakala (Ristić, Mira, MZOS ) ( CroRIS)
108-1080134-3105 - Mehanizmi narušavanja strukture lipoproteina djelovanjem vanjskih čimbenika (Gamulin, Ozren, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb,
Medicinski fakultet, Zagreb
Profili:
Marin Kosović
(autor)
Ozren Gamulin
(autor)
Mile Ivanda
(autor)
Maja Balarin
(autor)
Krešimir Furić
(autor)
Mira Ristić
(autor)
Svetozar Musić
(autor)