Pregled bibliografske jedinice broj: 268045
Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija
Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija, 2005., diplomski rad, Elektrotehnički fakultet, Osijek
CROSBI ID: 268045 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija
(Problems of signal integrity at sub-micronic microelectrinic manufacturing technology)
Autori
Liović, Tomislav
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad
Fakultet
Elektrotehnički fakultet
Mjesto
Osijek
Datum
09.03
Godina
2005
Stranica
62
Mentor
Švedek, Tomislav
Ključne riječi
šum; integritet; IR-pad napona; signal
(noise; integrity; IR-voltage drop; signal)
Sažetak
Ovaj diplomski rad se bavi problemima integriteta signala, te načinima njihovog uklanjanja u mikroelektroničkim sklopovima u submikronskom području. Integritet signala uključuje pojave kao što su šum preslušavanja, elektromigracija i IR- pad napona na vodovima napajanja, te signalnim vodovima. Te su pojave to izraženije što je viši stupanj integracije, frekvencija rada sklopa i što su manje minimalne dimenzije komponenata.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Elektrotehnika
POVEZANOST RADA
Projekti:
0165112 - Digitalna radiodifuzija u frekvencijskim opsezima ispod 30 MHz (Švedek, Tomislav, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Fakultet elektrotehnike, računarstva i informacijskih tehnologija Osijek
Profili:
Tomislav Švedek
(mentor)