Naslov
Istraživanje strukture dopiranih materijala pomoću rentgenske difrakcije
(Structural investigations of doped materials by X-ray diffraction)

Autori
Gržeta, Biserka

Izvornik
Institut Ruđer Bošković, 14.07.2003.

Vrsta, podvrsta
Ostale vrste radova, ostalo

Godina
2003

Ključne riječi
Rentgenska difrakcija; Kristalna struktura; Rietveldova metoda; Dopirani materijali
(X-ray diffraction; Crystal structure; Rietveld method; Doped materials)

Sažetak
U novije vrijeme niz istraživanja iz područja fizike i kemije okrenuto je prema istraživanju svojstava novih materijala, ali isto tako i iznalaženju postupaka kojima će već poznati materijali poboljšati neka svojstva i time postati interesantni za suvremene tehnologije. Pokazalo se da dopiranje materijala izabranim atomima često uzrokuje ovakove promjene, no mehanizam ugradnje atoma dopanda u svim slučajevima nije razjašnjen. Dok se fizička svojstava svakog novog materijala dobro istraže, ispitivanja strukture ostaju najčešće tek na fenomenološkom pristupu zbog činjenice da ih nije moguće prirediti u obliku monokristala. Međutim, upotreba Rietveldove metode za rješavanje kristalne strukture iz polikristalnog uzorka rješava taj problem. Isto vrijedi i za rješavanje strukture dopiranog materijala. No, radovi te vrste ipak nisu česti u literaturi. Prikazana su strukturna istraživanja mulita dopiranog kromom i SnO_2 dopiranog antimonom.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika

POVEZANOST RADA