Naslov
Metoda najmanjih kvadrata i primjena na problem utočnjavanja kristalne strukture
(Least square method and application to crystal structure refinement)

Autori
Beuk, Kristina

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad, diplomski

Mjesto
Zagreb

Datum
16.10

Godina
2017

Stranica
42

Mentor
Skoko, Željko

Ključne riječi
metoda najmanjih kvadrata, utočnjavanje kristalne strukture
(least square methods, crystal structure refinement)

Sažetak
U diplomskom radu predstavljena je metoda najmanjih kvadrata te njena primjena na utočnjavanje kristalne strukture iz podataka rendgenske difrakcije u polikristalu. Rad započinje s regresijskom analizom te upoznavanjem s regresijskim modelima kao temeljem regresijske analize. U radu je obrađena metoda najmanjih kvadrata, koja je najbolja analitička tehnika za izdvajanje podataka iz skupa podataka. Metoda je najbolja u smislu da se parametri određeni analizom najmanjih kvadrata normalno distribuiraju oko pravih parametara s najmanjim mogućim standardnim odstupanjima. Nadalje, opisana je povijest difrakcije, te posebno rendgenska difrakcija u polikristalu. Nakon snimanja difrakcijske slike određenog uzorka, ona se uspoređuje sa teorijskom difrakcijskom slikom, te se utočnjavaju razni parametri dok se ne dobije najbolje međusobno slaganje. Takav oblik usklađivanja teorijske difrakcijske slike i eksperimentalne slike opisan je dalje u radu a naziva se Rietveldova metoda. Na kraju je uz pomoć računalnog programa PANalytical X’Pert HighScore Plus v3.0 analizirana difrakcijska slika polikristalnog uzorka silicija, te je utočnjena njegova kristalna struktura.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika

POVEZANOST RADA