Pregled bibliografske jedinice broj: 118118
Generalized Parallel/Serial Test Procedure for Counters in Digital Low Complexity ASICs
Generalized Parallel/Serial Test Procedure for Counters in Digital Low Complexity ASICs // Proceedings of the INES 2002 - IEEE 375 - 378 / Lovrenčić, Alen ; Rudas, J, Imre (ur.).
Opatija: Fakultet organizacije i informatike Sveučilišta u Zagrebu, 2002. str. 375 - 378 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
CROSBI ID: 118118 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Generalized Parallel/Serial Test Procedure for Counters in Digital Low Complexity ASICs
Autori
Švedek, Tomislav ; Švedek, Velimir
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni
Izvornik
Proceedings of the INES 2002 - IEEE 375 - 378
/ Lovrenčić, Alen ; Rudas, J, Imre - Opatija : Fakultet organizacije i informatike Sveučilišta u Zagrebu, 2002, 375 - 378
Skup
IEEE International Conference on Intelligent Engineering Systems
Mjesto i datum
Opatija, Hrvatska, 2002
Vrsta sudjelovanja
Predavanje
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
DFT; Parallel/Serial Procedure; ASIC; counter
Sažetak
This paper proposes a generalized Parallel/Serial Test Procedure for testing of all kinds of long counters embedded in the surrounding logic. Its advantages and drawbacks are discussed, and an example of 7-order of magnitude reduction of the test sequence is given.
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Elektrotehnika
POVEZANOST RADA
Projekti:
0165112 - Digitalna radiodifuzija u frekvencijskim opsezima ispod 30 MHz (Švedek, Tomislav, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Fakultet elektrotehnike, računarstva i informacijskih tehnologija Osijek
Profili:
Tomislav Švedek
(autor)
