Naslov
Priprava i karakterizacija polielektrolitnih nanofilmova
(Preparation and Characterization of Polyelectrolyte Nanofilms)

Autori
Klačić, Tin ; Kovačević, Davor

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni

Izvornik
Simpozij studenata doktorskih studija PMF-a : knjiga sažetaka / Barišić, Dajana - Zagreb, 2021, 131-132

ISBN
978-953-6076-90-1

Skup
5. Simpozij studenata doktorskih studija PMF-a = 5th Faculty of Science PhD Student Symposium

Mjesto i datum
Zagreb, Hrvatska, 24.04.2021. - 25.04.2021

Vrsta sudjelovanja
Predavanje

Vrsta recenzije
Domaća recenzija

Ključne riječi
polielektrolitni višeslojevi ; elipsometrija ; mikroskopija atomskih sila
(polyelectrolyte multilayers ; ellipsometry ; atomic force microscopy)

Sažetak
Polielektroliti su makromolekule, najčešće polimeri, kod kojih je prisutan znatan udio gradivnih jedinica koje sadrže ionske ili lako ionizirajuće funkcionalne skupine. Primjeri takvih makromolekula su PAH – poli(alilamin hidroklorid) i PAA – poli(akrilna kiselina) čije su kemijske strukture prikazane na slici 1. Naizmjeničnom adsorpcijom pozitivno i negativno nabijenih polielektrolita na neku čvrstu površinu nastaju polielektrolitni višeslojevi. Ovakvom sloj-po-sloj metodom [1] se mogu veoma precizno dizajnirati nanofilmovi željenih svojstva. Upravo se zbog tog razloga ovi nanomaterijali sve intenzivnije istražuju kako bi se mogli primijeniti primjerice kod antibakterijske zaštite implantanta [2]. Najčešće korišteni modelni supstrat za formiranje polielektrolitnih filmova je pločica silicija na čijoj površini spontano nastaje tanki oksidni sloj [3]. Stoga se u prvoj fazi ove studije provela karakterizacija podloge od silicija, kako bi se u drugoj fazi pratilo i istražilo formiranje PAH/PAA polielektrolitnog višesloja na navedenom supstratu. Od brojnih metoda koje su korištene, ovdje će biti izdvojene samo elipsometrija i mikroskopija atomskih sila. Primjenom elipsometra određeno je da se na površini silicija nalazi oko 2 nm debeli sloj oksida. Potom je istom metodom praćena debljina PAH/PAA višesloja tijekom njegovog formiranja. I na kraju, snimanjem površine čistog supstrata i supstrata prekrivenog filmom mikroskopom atomskih sila dobile su se informacije o morfologiji i hrapavosti površine uzoraka, o prekrivenosti površine supstrata polielektrolitnim višeslojem i o debljini samog ultratankog filma.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Kemija

POVEZANOST RADA