Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
Slika profila

Julijana Divković-Pukšec

25596

Julijana

Divković-Pukšec

dr. sc.

nije evidentirano
Naziv Akcije
Blečić, Raul ; Ivanković, Andrej ; Divković Pukšec, Julijana Kernighan-Lin algorithm for n-way circuit partitioning // Proceedings of 32nd International Convention MIPRO / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.). Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009. str. 186-190
Šipić, Igor ; Branica, Ivan ; Kolar, Dalibor ; Divković Pukšec, Julijana Interconnect Delay Time Estimation // Proceedings of the 29th International Convention - MIPRO 2006 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.). Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2006. str. 115-119
Kette, Boris ; Divković Pukšec, Julijana CMOS Differential Amplifier in Large Signal Mode // Proceedings of MIPRO 2005. 2005
Butković, Željko ; Divković Pukšec, Julijana Propagation Time Optimization Using Transistor Sizing // Proceedings of the 27th International Convention - MIPRO 2004, Conferences: MEET and HGS / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.). Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2004. str. 84-88-x
Kolar, Dalibor ; Divković Pukšec, Julijana ; Branica, Ivan VLSI Circuit Partition Using Simulated Annealing Algorithm // Proceedings / MELECON 2004 / Matijašević, Maja ; Pejčinović, Branimir ; Tomšić, Željko et al. (ur.). Zagreb: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2004. str. 205-208-x
Grgek, Marijana ; Branica, Ivan ; Divković-Pukšec, Julijana Performance Comparison of Several Data Structures for Storing VLSI Geometry // Proceedings of Eurocon 2003 / Zajc, Baldomir ; Tkalčič, Marko (ur.). Ljubljana, 2003. str. 156-159-x
Divković-Pukšec, Julijana Recombination Process and Holes and Electrons Lifetimes // Automatika : časopis za automatiku, mjerenje, elektroniku, računarstvo i komunikacije, 43 (2002), 1-2; 47-53-x
Divković-Pukšec, Julijana ; Suligoj, Tomislav Estimation of Deep Trap Concentration Using Capacitance Voltage Measurements // Proceedings of MIPRO 2002 / Biljanović, Petar; Skala, Karolj (ur.). Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2002. str. 6-11-x
Divković-Pukšec, Julijana ; Gradišnik, Vera Influence of Shallow Impurity on Steady-State Probability Function of Multilevel Deep Impurity // Proceedings of MELECON 2000, Vol. I / Economides, Costas ; Pattichis, Constantinos S. ; Maliotis, Greg (ur.). Limassol: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000. str. 185-188-x
Divković-Pukšec, Julijana Multilevel Deep Impurity in N and P-type of Semiconductor // Proceedings of MIPRO 2000 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan et al. (ur.). Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2000. str. 1-4-x
nije evidentirano
nije evidentirano