Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
Perić, Mario
Analiza vertikalnog MOS tranzistora u tehnologiji silicija ni na čemu / Biljanović, Petar (mentor);
Zagreb, Fakultet elektrotehnike i računarstva, . 2006
Perić, Mario ; Suligoj, Tomislav ; Biljanović, Petar ; Schulze, Joerg ; Eisele, Ignaz ; Thompson, Phillip E. ; Jernigan, Glenn
Influence of Silicon Body Thickness of Vertical Silicon on Nothing (SON) MOSFET with Nitride Nate Dielectric on Electrical Characteristics // 42nd INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, DEVICES AND MATERIALS AND THE WORKSHOP ON MEMS AND NEMS / Vrtačnik, D. ; Amon, S. ; Šorli I. (ur.). Ljubljana: Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials (MIDEM), 2006. str. 119-124-x
Jovanović, Vladimir ; Perić, Mario ; Sviličić, Boris ; Biljanović, Petar
Inductive Influences in VLSI Interconnect // 27th International Convention MIPRO 2004 : proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.). Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2004. str. 74-77
Jovanović, Vladimir ; Perić, Mario ; Biljanović, Petar
Inductive Influence on Propagation Delay of IC Interconnect // Proceedings of The 39th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials (MIDEM 2003) Conference / Pignatel, Giorgio ; Žemva, Andrej ; Šorli, Iztok (ur.). Ljubljana: Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials (MIDEM), 2003. str. 199-204
