Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
Grozdanić, Danijela
Paramagnetski defekti u elementalnim poluvodičima i njihovim slitinama / Pivac, Branko ; Rakvin, Boris (mentor);
Zagreb, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, . 2009
Grozdanić, Danijela ; Slunjski, Robert ; Rakvin, Boris ; Dubček, Pavo ; Pivac, Branko ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid
Structural analysis of amorphous Si films prepared by magnetron sputtering // Vacuum, 84 (2009), 1; 126-129. doi: 10.1016/j. vacuum.2009.05.014
Grozdanić, Danijela ; Slunjski, Robert ; Rakvin, Boris ; Pivac, Branko ; Dubček, Pavo ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid ;
STRUCTURAL ANALYSIS OF AMORPHOUS Si FILMS PREPARED BY MAGNETRON SPUTTERING // Programme & Book of Abstracts / Bohatka, S. (ur.). Deberecen: REXPO Kft., 2008. str. 120-120
Grozdanić, Danijela ; Rakvin, Boris ; Pivac, Branko ; Dubček, Pavo ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid
Structural characterization of thin amorphous Si films // Thin solid films, 515 (2007), 14; 5620-5623. doi: 10.1016/j.tsf.2006.12.013