Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
Slika profila

Danica Sokolean

7020

Danica

Sokolean

mr. sc.

nije evidentirano
Naziv Akcije
Metikoš-Huković, Mirjana ; Stupnišek-Lisac, Ema ; Sokolean, Danica Surface properties of the system: Hard metal/Co coating/electrolyte // Journal of Applied Electrochemistry, 21 (1991), 7; 619-624. doi: 10.1007/BF01024850
Sokolean, D. ; Metikoš-Huković, Mirjana ; Stupnišek-Lisac, Ema Electrolytic cobalt coatings on hard metal substrates // Proceedings, Vol. 2, 11th International Corrosion Congress. 1990. str. 379-385
Novosel-Radović, Vjera ; Sokolean, Danica ; Sofilić, Tahir ; Kesić Racan, Milica Identifikacija polikristaliničnog uzorka nepoznatog porijekla // Kemija u industriji : časopis kemičara i tehnologa Hrvatske, 37 (1983), 291-294-x
Sofilić, Tahir ; Kesić-Racan, Milica ; Sokolean, Danica Određivanje optimalnih uvjeta za analizu elemenata rijetkih zemalja spektrometrijom emisije X-zraka // Buletini i kimistëve dhe i teknologëve të Kosovës, 2 (1982), 173-179-x
Kesić-Racan, Milica ; Dmitrović, Radana ; Sokolean, Danica ; Sofilić, Tahir Određivanje optimalnih uvjeta uzimanja uzoraka visokolegiranog čeličnog liva za analizu spektrometrijom emisije X-zraka // Metalurgija, 21 (1982), 3-4; 55-62
Sokolean, Danica ; Kesić-Racan, Milica ; Sofilić, Tahir Određivanje sadržaja Nb u mikrolegiranim i Nb i Mo u legiranim čelicima spektrometrijom emisije X-zraka // Buletini i kimistëve dhe i teknologëve të Kosovës, 2 (1982), 181-184-x
Sofilić, Tahir ; Sokolean, Danica ; Kesić-Racan, Milica Izbor analitičkih linija u analizi elemenata rijetkih zemalja spektrometrijom emisije x-zraka. 1982
Novosel-Radović, Vjera ; Sokolean, Danica ; Sofilić, Tahir ; Kesić-Racan, Milica Debye Scherrer Kamera kao analitički instrument. 1982
Sokolean, Danica ; Sofilić, Tahir ; Novosel-Radović, Vjera Analiza kemijskog sastava VP-troske spektrometrijom emisije x-zraka. 1982
Sofilić, Tahir ; Kesić-Racan, Milica ; Sokolean, Danica Neke mogućnosti pripreme uzoraka za analizu spektrometrijom emisije X-zraka // Metalurgija, 20 (1981), 1-2; 37-40
nije evidentirano
nije evidentirano