Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
Hanžek, Juraj; Fazinić, Stjepko; Karlušić, Marko; Kumar Bmatt, Sunil
Threshold for ionization-induced defect annealing in silicon carbide // Radiation physics and chemistry (1993), 215 (2024), 111362, 4. doi: 10.1016/j.radphyschem.2023.111362
Iveković, Damjan ; Kumar, Sunil ; Gajović, Andreja ; Čižmar, Tihana ; Karlušić, Marko
Response of Bilayer and Trilayer Graphene to High- Energy Heavy Ion Irradiation // Materials, 16 (2023), 4; 1332-1341. doi: 10.3390/ma16041332