Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
Hlupić, Nikica ; Butorac, Josip ; Krešić, Mario
Improved Frequency Measurement by means of DMM and verification of its specifications // IEEE transactions on instrumentation and measurement, 54 (2005), 5; 1957-1963-x
Ilić, Damir ; Krešić, Mario ;
Maintenance of the reference resistance standards of the Primary Electromagnetic Laboratory in Croatia // Proceedings of the 13th IMEKO TC4 Symposium / Kayafas, E. ; Loumos, V. (ur.). Atena: IMEKO&NTUA, 2004. str. 86-92
Butorac, Josip ; Ilić, Damir ; Krešić, Mario ; Leniček, Ivan
Primarni elektromagnetski laboratorij u Zagrebu - dio hrvatskog mjeriteljskog sustava // Proceedings of the 4th International Conference RIM 2003 / Karabegović, I. ; Jurković, M. ; Doleček, V. (ur.). Bihać: Univerzitet u Bihaću, 2003. str. 515-520-x
Butorac, Josip ; Krešić, Mario
LABORATORY PRACTICUM FOR EDUCATION IN MEASUREMENT // 12th IMEKO TC4 International Symposium ELECTRICAL MEASUREMENTS AND INSTRUMENTATION PROCEEDINGS, PART 2 / Ilić, Damir ; Boršić, Mladen ; Butorac, Josip (ur.). Zagreb: HMD Zagreb, 2002. str. 522-525-x
Malarić, Roman ; Leniček, Ivan ; Krešić, Mario
Determination of DMM errors // ELMAR 2000 Proceedings. Zadar, 2000. str. 75-78-x
Hlupić, Nikica ; Krešić, Mario ; Leniček, Ivan
Comparison of two sampling methods for sine wave measurement // Proceedings / IMEKO 2000, XVI IMEKO World Congress / Durakbasa, M.N. ; Afjehi-Sadat, A. ; Osanna, P.H. (ur.). Beč: OEGMA, 2000
Krešić, Mario
USTROJSTVO I POSTUPCI OSIGURANJA SLJEDIVOSTI PRIMARNOG ELEKTROMAGNETSKOG LABORATORIJA / prof. dr. sc. Josip Butorac (mentor);
Zagreb, Fakultet elektrotehnike i računarstva, . 2000
Ilić, Damir ; Butorac, Josip ; Krešić, Mario
Use of precise digital voltmeters for AC voltage measurements // CPEM 2000 Digest / Hunter, John ; Johnson, Leigh (ur.). Sydney: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000. str. 494-495-x