hrvatski

Identifikacija i molekularno mapiranje modernih slikarskih materijala pomoću MeV SIMS metode s primjenom u forenzici

Spektrometrija sekundarnih molekularnih iona pomoću iona MeVskih energija (MeV SIMS) u kombinaciji sa teškoionskom mikroprobom metoda je koja se koristi za identifikaciju i 2D mapiranje molekularnog sustava u različitim uzorcima s mikronskom prostornom rezolucijom. U ovom radu istražio bi se potencijal metode za identifikaciju i molekularno mapiranje slikarskih materijala jednog od suvremenih umjetnika čija se djela nalaze u zbirci Muzeja suvremene umjetnosti u Zagrebu, a u cilju dobivanjabaze podataka korištenih modernih slikarskih materijala vezanih uz njegov rad. Postojanje takvih baza važno je kako zbog restauracije samih umjetnina koja se nalaze u zbirci muzeja tako i zbog potencijala da se takva baza, a i MeV SIMS kao metoda koriste u forenzici za otkrivanje krivotvorenih umjetničkih djela.

MeV SIMS ; sintetski organski pigmenti i veziva

nije evidentirano