hrvatski

Utjecaj kiselih kiša na oksidne filmove metala

U radu su istraživani mehanizam i kinetika rasta, kao i svojstva oksidnih filmova formiranih na željezu, visokolegiranom čeliku 304, aluminiju, Al-Li 8090 leguri, kositru, bakru i bronci CuSn14 u simuliranoj otopini kisele kiše pH vrijednosti 4, 5. Istraživanja su provedena primjenom elektrokemijskih tehnika cikličke voltametrije (CV) i elektrokemijske impedancijske spektroskopije (EIS), te atomskom apsorpcijskom spektroskopijom (AAS). Rast oksidnih filmova, u potenciodinamičkim uvjetima, karakteriziran je pojavom "strujnog platoa" zabilježenog na cikličkim voltamogramima, a analiza ovisnosti strujnog platoa o brzini promjene potencijala pokazala je kako se rast oksidnog filma na željezu odvija migracijom iona u električnom polju niske jakosti, dok se na ostalim ispitivanim metalima odvija prema modelu polja visoke jakosti. Određene su kinetičke veličine rasta oksidnih filmova, ionska vodljivost oksida, kao i jakost električnog polja kroz oksid. Analizom površine ispod anodne strujne krivulje dobivene su debljine oksidnih filmova. Strukturna svojstava međufaznih granica i čvrstofazne pretvorbe u površinskim filmovima studirane su elektrokemijskom impedancijskom spektroskopijom. Impedancijska mjerenja su provedena na potenciostatski formiranim oksidnim filmovima nakon stabilizacije elektrode 30 minuta na potencijalu otvorenog kruga i na odabranim potencijalima nukleacije i rasta filma. Međufazna granica metal/oksidni film/elektrolit interpretirana je na osnovu električnih ekvivalentnih krugova, te su određene vrijednosti za pojedine elemente u krugu. Provedena je i kvantitativna analiza otopljenih metala atomskom apsorpcijskom spektroskopijom (AAS) kako bi se utvrdila koncentracija iona metala nastala u procesu korozije u ispitivanim uvjetima. Dobiveni rezultati AAS-a u suglasnosti su s rezultatima cikličke voltametrije i elektrokemijske impedancijske spektroskopije.

željezo, visokolegirani čelik 304, aluminij, Al-Li 8090 legura, kositar, bakar, bronca CuSn14, ciklička voltametrija, elektrokemijska impedancijska spektroskopija, atomska apsorpcijska spektroskopija, kisela kiša, anodni film, mehnizam i kinetika rasta filma

nije evidentirano