Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Usporedba transportnih svojstava Si i 4H-SiC detektora (CROSBI ID 652516)

Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa

Blažeka, Damjan ; Brodar, Tomislav ; Capan, Ivana ; Ohshima, Takeshi ; Sato, Shin-ichiro ; Makino, Takahiro ; Snoj, Luka ; Radulović, Vladimir ; Usporedba transportnih svojstava Si i 4H-SiC detektora // 24th International Scientific Meeting on Vacuum Science and Technique, Book of abstracts / Buljan, Maja ; Karlušić, Marko (ur.). Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2017. str. 20-20

Podaci o odgovornosti

Blažeka, Damjan ; Brodar, Tomislav ; Capan, Ivana ; Ohshima, Takeshi ; Sato, Shin-ichiro ; Makino, Takahiro ; Snoj, Luka ; Radulović, Vladimir ;

hrvatski

Usporedba transportnih svojstava Si i 4H-SiC detektora

Silicij-karbid (SiC) je poluvodički materijal koji se intenzivno istražuje jer može podnijeti uvjete u kojima prevladavaju visoki iznosi temperature, električne snage, frekvencije i zračenja. Posebnu primjenu našao je u izradi poluvodičkih detektora. U ovom radu usporedili smo transportna svojstva SBD (Schottky barrier diode) detektora od silicija (Si) i 4H-SiC, koji imaju podjednaku dopiranost (n-tip, 10^14 cm-3). Korištena su temperaturno ovisna kapacitivno-naponska (C-V) i strujno-naponska (I-V) mjerenja na temperaturama od 100K do 380K. Pokazali smo da u gotovo svim svojstvima važnim za detektore SiC ima bolje karakteristike u odnosu na Si. Struja curenja, koja određuje minimalnu amplitudu signala u poluvodičkim detektorima, kod SiC je više od deset redova veličine manja nego kod Si. Promjena koncentracije slobodnih nosilaca naboja s temperaturom kod SiC je manja, što znači veću stabilnost i preciznost detektora. Povećanje faktora idealnosti sa spuštanjem temperature kod SiC je puno manje izraženo nego kod Si, i znak je da je zanemariva struja rekombinacije u području osiromašenja. To pokazuje da je mala koncentracija rekombinacijsko – generacijskih centara, što je posljedica izvrsne izrade analiziranog SiC uzorka, a omogućava dobru rezoluciju detektora. Detektor od SiC podvrgnuli smo neutronskom zračenju u TRIGA reaktoru na Institutu Jožef Štefan i zaključili da su transportna svojstva pokazala dobru otpornost s obzirom na primijenjene doze.

poluvodiči ; detektori ; neutronsko zračenje ; silicij-karbid ;

nije evidentirano

engleski

Transport properties comparison of Si and 4H-SiC detectors

nije evidentirano

semiconductors ; detectors ; neutron-irradiation ; silicon-carbide ;

nije evidentirano

Podaci o prilogu

20-20.

2017.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

24th International Scientific Meeting on Vacuum Science and Technique, Book of abstracts

Buljan, Maja ; Karlušić, Marko

Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD)

978-953-7941-17-8

Podaci o skupu

24th International Scientific Meeting on Vacuum Science and Technique

poster

18.05.2017-19.05.2017

Zadar, Hrvatska

Povezanost rada

Fizika