izvor podataka: crosbi
!
Interstitial defects in ion-implanted Si (CROSBI ID 483623)
Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa | međunarodna recenzija
Kovačević, Ivana ; Borjanović, Vesna ; Pivac, Branko
Interstitial defects in ion-implanted Si // Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.). Graz: HTU GmbH, 2002. str. 77-77
Podaci o odgovornosti
Kovačević, Ivana ; Borjanović, Vesna ; Pivac, Branko
engleski
Interstitial defects in ion-implanted Si
aa
Silicon ; Ion Implantation ; Defects ; DLTS ; Interstitial ; Carbon ; Oxygen ;
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
Podaci o prilogu
77-77.
2002.
objavljeno
Podaci o matičnoj publikaciji
Final programme and book of abstracts
Leisch, M. ; Winkler, A.
Graz: HTU GmbH
Podaci o skupu
9th Joint Vacuum Conference
poster
16.07.2002-20.07.2002
Leibnitz, Austrija
