Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Analiza 2D GISAXS spektara CdS nanokristala u SiO2 substratu (CROSBI ID 483537)

Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa | međunarodna recenzija

Buljan, Maja ; Salamon, Krešimir ; Dubček, Pavo ; Bernstorff, Sigrid ; Desnica-Franković, Ida-Dunja ; Milat, Ognjen ; Desnica, Uroš Analiza 2D GISAXS spektara CdS nanokristala u SiO2 substratu // zbornik sažetaka 9. međunarodnog sastanka Vakuumska znanost i tehnika / Radić, Nikola (ur.). Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2002. str. 14-14-x

Podaci o odgovornosti

Buljan, Maja ; Salamon, Krešimir ; Dubček, Pavo ; Bernstorff, Sigrid ; Desnica-Franković, Ida-Dunja ; Milat, Ognjen ; Desnica, Uroš

hrvatski

Analiza 2D GISAXS spektara CdS nanokristala u SiO2 substratu

Raspršenje rendgenskih zraka pod malim upadnim kutom (grazing incidence small-angle X-ray scattering-GISAXS), primijenjeno je na nanokristale poluvodiča u SiO2 supstratu. Analizom slike raspršenja, snimljenoj na 2D detektoru, dobiven je oblik, veličina, raspodjela veličina i međusobna udaljenost čestica unutar supstrata. GISAXS analiza bazirana je na metodi lokalne monodisperzne aproksimacije (local monodisperse approximation-LMA) i raspršenja sa realnih površina u Bornovoj aproksimaciji distordiranih valova (distorted wave Born approximation-DWBA). Lokalna monodisperzna aproksimacija pretpostavlja da su položaj i veličina čestica unutar supstrata međusobno korelirani, te da se sustav čestica sastoji od mnogo monodisperznih podsustava. Ukupno raspršenje sa čestica unutar supstrata jednako je sumi raspršenja sa tih podsustava. Raspršenje na samoj površini daje dodatni doprinos ukupnom intenzitetu, te se mora uzeti u obzir prilikom analize GISAXS spektara. Ispitivani su nanokristali CdS formirani metodom sinteze iz ionskog snopa u SiO2 supstratu. Serije profila duž raznih polarnih kutova detektora (2D GISAXS spektara), prilagođavane su na teoretske modele. Iz parametara prilagođavanja određeni su veličina, oblik, međusobna udaljenost i raspodjela veličina čestica, koji su u dobrom slaganju (unutar 10 %) sa rezultatima mjerenja transmisijskim elektronskim mikroskopom.

nanokristali; CdS; implantacija

nije evidentirano

engleski

Analysis of 2D GISAXS patterns of CdS nanocrystals in SiO2 substrate

nije evidentirano

nanocrystals; CdS; implantation

nije evidentirano

Podaci o prilogu

14-14-x.

2002.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

zbornik sažetaka 9. međunarodnog sastanka Vakuumska znanost i tehnika

Radić, Nikola

Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD)

Podaci o skupu

9. Međunarodni sastanak, Vakuumska znanost i tehnika,

predavanje

15.05.2002-15.05.2002

Trakošćan, Hrvatska

Povezanost rada

Fizika