Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

ANALYSIS OF THE SURFACE LAYER ON Ge DOTS IN SiO2 MATRIX (CROSBI ID 635564)

Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa | međunarodna recenzija

Pivac, Branko ; Dubček, Pavo ; Dasović, Jasna ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid ; ANALYSIS OF THE SURFACE LAYER ON Ge DOTS IN SiO2 MATRIX // EMRS Spring meeting 2016, PROGRAMME AND BOOK OF ABSTRACTS. Lille, 2016. str. T-19-T-19

Podaci o odgovornosti

Pivac, Branko ; Dubček, Pavo ; Dasović, Jasna ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid ;

engleski

ANALYSIS OF THE SURFACE LAYER ON Ge DOTS IN SiO2 MATRIX

a

Ge; nanoparticles; SAXS; XRD;

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o prilogu

T-19-T-19.

2016.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

EMRS Spring meeting 2016, PROGRAMME AND BOOK OF ABSTRACTS

Lille:

Podaci o skupu

EMRS Spring meeting 2016

poster

02.05.2016-06.05.2016

Lille, Francuska

Povezanost rada

Fizika