Napredna pretraga

Pregled bibliografske jedinice broj: 807843

Analiza proširenja rendgenskih difrakcijskih linija – kako odrediti mikrostrukturu


Skoko, Željko; Popović, Stanko; Popović, Jasminka
Analiza proširenja rendgenskih difrakcijskih linija – kako odrediti mikrostrukturu // Suvremena kristalografija u Hrvatskoj : zbornik radova sa znanstvenoga skupa / Popović, Stanko (ur.).
Zagreb: HAZU-Razred za matematičke, fizičke i kemijske znanosti, Znanstveno vijeće za kristalografiju HAZU-Hrvatska kristalografska zajednica, 2015. str. 69-79 (predavanje, domaća recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)


Naslov
Analiza proširenja rendgenskih difrakcijskih linija – kako odrediti mikrostrukturu
(X-ray diffraction line broadening analysis – how to determine microstructure)

Autori
Skoko, Željko ; Popović, Stanko ; Popović, Jasminka

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni

Izvornik
Suvremena kristalografija u Hrvatskoj : zbornik radova sa znanstvenoga skupa / Popović, Stanko - Zagreb : HAZU-Razred za matematičke, fizičke i kemijske znanosti, Znanstveno vijeće za kristalografiju HAZU-Hrvatska kristalografska zajednica, 2015, 69-79

ISBN
978-953-347-040-5

Skup
Znanstveni skup "Suvremena kristalografija u Hrvatskoj"

Mjesto i datum
Zagreb, Hrvatska, 30.9.2014

Vrsta sudjelovanja
Predavanje

Vrsta recenzije
Domaća recenzija

Ključne riječi
Mikrostruktura ; rendgenska difrakcija ; polikristali
(Microstructure ; X-ray diffraction ; polycrystals)

Sažetak
Poznavanje mikrostrukture materijala osnovni je cilj u istraživanjima koji se bave ciljanim razvojem novih materijala. Veličina kristalita, raspodjela kristalita po veličini, deformacija kristalita, pogreške u slijedu mrežnih ravnina i dislokacije imaju ključnu ulogu u konačnim svojstvima materijala. Rendgenska difrakcija u prahu predstavlja jednu od osnovnih eksperimentalnih tehnika s pomoću koje se mogu odrediti mikrostrukturni parametri. Prvi korak u toj analizi predstavlja uklanjanje instrumentnoga doprinosa iz ukupnoga difrakcijskog profila, tj. određivanje čistoga difrakcijskog profila, čije je proširenje uzrokovano samo mikrostrukturom. Optimalna metoda za to je primjena Stokesove dekonvolucije. U radu su prikazane osnovne metode za određivanje mikrostrukturnih parametara iz proširenja rendgenskih difrakcijskih linija: Warren-Averbachova metoda koja se temelji na analizi Fourierovih koeficijenata čistoga difrakcijskog profila, te metode koje koriste integralne širine difrakcijskih profila. Također je opisan računalni program XBroad za analizu proširenja difrakcijskih linija u kojem su implementirane Warren-Averbachova i Williamson-Hallova metoda, a koji su razvili autori ovog rada.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika



POVEZANOST RADA


Projekt / tema
119-0982886-1009 - Struktura i svojstva posebnih nanomaterijala dobivenih suvremenim tehnikama (Antun Tonejc, )

Ustanove
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb,
Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb