izvor podataka: crosbi
!
Silicon Nanowire Studied by TEM-STM (CROSBI ID 602834)
Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa | međunarodna recenzija
Erts, Donats ; Holmes, Justin D. ; Lyons, Daniel Mark ; Olin, Hakan ; Olsson, Eva ; Ryen, Lars ; Svensson, Krista
Silicon Nanowire Studied by TEM-STM // Proceedings. 2002
Podaci o odgovornosti
Erts, Donats ; Holmes, Justin D. ; Lyons, Daniel Mark ; Olin, Hakan ; Olsson, Eva ; Ryen, Lars ; Svensson, Krista
engleski
Silicon Nanowire Studied by TEM-STM
Probing the physical properties of individual nanowires
TEM; STM; nanowires
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
Podaci o prilogu
2002.
objavljeno
Podaci o matičnoj publikaciji
Proceedings
Podaci o skupu
15th International Congress on Electron Microscopy
poster
01.09.2002-06.09.2002
Durban, Južnoafrička Republika
