hrvatski

Izračunavanje gubitaka učinskih tranzistora s efektom polja za određivanje njihove strujne opteretivosti

Tema rada su gubici učinskog MOSFET-a. Cilj rada je izračunavanje vremenskog tijeka gubitaka u sklopovima energetske elektronike s definiranom točnošću. Svrha rada je upotreba rezultata izračunavanja u proračunu strujne opteretivosti učinskog MOSFET-a, odnosno u postupku električkog i toplinskog projektiranja pretvaračkih sklopova.

učinski tranzistor s efektom polja; mikromodel makromodel; nadomjesna temperatura silicija; prijelazna toplinska impedancija; mjerenje temperature silicijeve pločice; računanje vremenskog tijeka nadomjesne temperature silicija

nije evidentirano