Health risks of non-ionizing radiation in electrical engineering (CROSBI ID 588520)
Prilog sa skupa u časopisu | izvorni znanstveni rad | međunarodna recenzija
Podaci o odgovornosti
Pavičić, Ivan ; Marjanović, Ana Marija ; Trošić, Ivančica
engleski
Health risks of non-ionizing radiation in electrical engineering
Svrha ovog rada je ažuriranje informacija o biološkom potencijalu neionizrajućeg zračenja elektromagnetskog spektra (NIR EM). NIR zračenje se temeljem frekvencijskih pojasa dijeli na tri operativne skupine ; radiofrekvencijski pojas (RF) od 100 kHz do 300 GHz, pojas ekstremno niskih frekvencija (ELF) od 0 do 300 Hz, te statička polja (SF) od 0 Hz. Opsežni pregled triju neovisnih linija istraživanja uključujući epidemiološki, in vivo i in vitro pristup, upućuje na zaključak da je povećanje pojavnosti karcinoma u ljudi izloženih RF poljima malo vjerojatno. Radi procjene utjecaja dugotrajnog izlaganja jedinke RF poljima potrebna su daljnja ciljana ispitivanja. Dosadašnja epidemiološka istraživanja i studije na animalnim modelima potvrdila su da zračenje ELF-a može potencijalno djelovati kao karcinogen i povećati pojavnosti leukemije. Za sada in vitro istraživanja ne uspijevaju objasniti stanične mehanizame epidemioloških nalaza. Za razliku od elektromagnetskih polja, nedostatak uvjerljivih znanstvenih podataka za statička magnetska polja predstavlja poteškoću pri procjeni biološkog rizika. Vezano uz učinke zračenja NIR polja SCENIHR EU (Scientific Committee on Emerging and Newly Identified Health Risks European Union) za RF zračenja preporuča dugoročna prospektivna istraživanja pojavnosti karcinoma, praćenje zdravstvenih učinaka u djece, procjenu ukupne izloženosti pojedinca, studije mehanizama djelovanja na razini stanice. Za ELF područja preporuča se provođenje epidemioloških studija uključujući pojavnost leukemije u djece i neurodegenerativnih bolesti. Zbog nedovoljne istraženosti, SCENIHR EU smatra da bi kohortne studije osoba izloženih statičkim poljima koja potječu iz dijagnostičko-medicinskih uređaja ukazale na možebitnu štetnost SMF-a.
radio-frequency ; extremely low frequency ; static fields ; nonionizing radiation
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
Podaci o prilogu
21-24.
2012.
nije evidentirano
objavljeno
Podaci o matičnoj publikaciji
Elektroinženjerski simpozij Dani Josipa Lončara
Nađ, Ivan
Zagreb: Elektrotehničko društvo Zagreb
1848-0772
Podaci o skupu
Međunarodni Elektroinženjerski simpozij (EIS) Dani Josipa Lončara (26 ; 2012)
predavanje
06.05.2012-09.05.2012
Šibenik, Hrvatska