hrvatski

Sinkrotronsko zračenje i njegova primjena u analizi borovog nitrida

NEXAFS (Near Edge X-ray Absorption Fine Structure) tehnika je analitička tehnika koja koristi sve mogućnosti i prednosti sinkrotronskog zračenja. Ova tehnika osigurava informacije o tipu veze, kemijskoj strukturi, orijentaciji tankih filmova na podlozi, vrsti točkastih defekata ili narušavanju kristalne strukture te detekciji molekularnog dušika. U ovoj diplomskoj radnji opisala sam nekoliko eksperimenata u kojima je korištena NEXAFS tehnika u karakterizaciji poluvodiča. Navedeni primjeri dani su za mjerenja na BN strukturama (h-BN, c-BN i BNNT) koja su napravljena u NSRRC-u (National Synchrotron Radiation Research Center-u) na Tajvanu u siječnju ove godine. Primjerima koje sam navela željela sam prikazati kolika je važnost NEXAFS tehnike u proučavanju strukture i svojstava materijala.

sinkrotronsko zračenje; borov nitrid; NEXAFS

nije evidentirano