Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

TEM, HRTEM, SEM and X-ray diffraction study of iron doped TiO2 (CROSBI ID 475558)

Prilog sa skupa u zborniku | izvorni znanstveni rad | međunarodna recenzija

Tonejc, Anđelka ; Djerdj, Igor ; Gotić, Marijan ; Tudja, Marijan ; Popović, Stanko ; Tonejc, Antun ; Musić, Svetozar TEM, HRTEM, SEM and X-ray diffraction study of iron doped TiO2 // Proceedings of 4th multinational congress on electron microscopy. Veszprém: University of Veszprem, 1999. str. 375-376-x

Podaci o odgovornosti

Tonejc, Anđelka ; Djerdj, Igor ; Gotić, Marijan ; Tudja, Marijan ; Popović, Stanko ; Tonejc, Antun ; Musić, Svetozar

engleski

TEM, HRTEM, SEM and X-ray diffraction study of iron doped TiO2

Nanosized iron-doped TiO2 was synthesised by a sol-gel method and the samples were analysed by TEM, HRTEM, SEM and XRD.

HRTEM; iron doped TiO2; grain size distribution

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o prilogu

375-376-x.

1999.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

Proceedings of 4th multinational congress on electron microscopy

Veszprém: University of Veszprem

Podaci o skupu

4th Multinatonal congress on electron microscopy

poster

05.09.1999-08.09.1999

Veszprém, Mađarska

Povezanost rada

Fizika