Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Depozicija i karakterizacija tankih filmova silicija (CROSBI ID 358952)

Ocjenski rad | diplomski rad

Gebavi, Hrvoje Depozicija i karakterizacija tankih filmova silicija / Ivanda, Mile (mentor); Zagreb, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, . 2006

Podaci o odgovornosti

Gebavi, Hrvoje

Ivanda, Mile

hrvatski

Depozicija i karakterizacija tankih filmova silicija

nije evidentirano

depozicija; tanki filmovi; silicij

nije evidentirano

engleski

Deposition and characterization of silicon thin films

nije evidentirano

deposition; thin films; silicon

nije evidentirano

Podaci o izdanju

122

28.06.2006.

obranjeno

Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj

Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb

Zagreb

Povezanost rada

Fizika