Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Strukturna istraživanja tankih filmova amorfnog silicija (CROSBI ID 559467)

Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa | domaća recenzija

Dubček, Pavo ; Pivac, Branko ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid Strukturna istraživanja tankih filmova amorfnog silicija // Zbornik sažetaka 6. Znanstvenog sastanka HFDa / Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor (ur.). Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 2009. str. 75-75

Podaci o odgovornosti

Dubček, Pavo ; Pivac, Branko ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid

hrvatski

Strukturna istraživanja tankih filmova amorfnog silicija

Promjene strukture amorfnog silicija istraživane su raspršenjem rentgenskih zraka pod malim kutom.

amorfni silicij; tanki film

nije evidentirano

engleski

Structure of a-Si thin films

nije evidentirano

amorphous silicon; thin film

nije evidentirano

Podaci o prilogu

75-75.

2009.

nije evidentirano

objavljeno

978-953-7178-12-3

Podaci o matičnoj publikaciji

Zbornik sažetaka 6. Znanstvenog sastanka HFDa

Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor

Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo

Podaci o skupu

6. znanstveni sastanak Hrvatskog Fizikalnog društva

poster

08.10.2009-11.10.2009

Primošten, Hrvatska

Povezanost rada

Fizika