Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Strukturna i optička svojstva tankih filmova silicija (CROSBI ID 357217)

Ocjenski rad | diplomski rad

Belić, Domagoj Strukturna i optička svojstva tankih filmova silicija / Tonejc, Antun (mentor); Zagreb, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, . 2007

Podaci o odgovornosti

Belić, Domagoj

Tonejc, Antun

hrvatski

Strukturna i optička svojstva tankih filmova silicija

U ovom diplomskom radu proučavani su tanki filmovi silicija s ciljem nalaženja veze između njihovih strukturnih i optičkih svojstava. Tanki filmovi pripravljeni metodom plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) sastojali su se od amorfnog hidrogeniziranog silicija (a-Si:H) koji je sadržavao određeni postotak kristalita nanometarskih dimenzija kvantnih točaka. Istraživanje strukturnih svojstava obuhvatilo je određivanje postotka kristaliničnosti tankih filmova i veličinu pojedinih kristalitalkvantnih točaka. Od optičkih svojstava određivani su optički energijski procjep i kvantna efikasnost te je zatim tražena njihova korelacija s izmjerenim strukturnim svojstvima.

amorfni poluvodiči ; nanokristalni poluvodiči ; solarna ćelija

nije evidentirano

engleski

Structural and optical properties of Si thin films

nije evidentirano

smorphous semiconductors ; nanocrystalline semiconductors ; solar cells

nije evidentirano

Podaci o izdanju

44

15.03.2007.

obranjeno

Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj

Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb

Zagreb

Povezanost rada

Fizika