Strukturna i optička svojstva tankih filmova silicija (CROSBI ID 357217)
Ocjenski rad | diplomski rad
Podaci o odgovornosti
Belić, Domagoj
Tonejc, Antun
hrvatski
Strukturna i optička svojstva tankih filmova silicija
U ovom diplomskom radu proučavani su tanki filmovi silicija s ciljem nalaženja veze između njihovih strukturnih i optičkih svojstava. Tanki filmovi pripravljeni metodom plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) sastojali su se od amorfnog hidrogeniziranog silicija (a-Si:H) koji je sadržavao određeni postotak kristalita nanometarskih dimenzija kvantnih točaka. Istraživanje strukturnih svojstava obuhvatilo je određivanje postotka kristaliničnosti tankih filmova i veličinu pojedinih kristalitalkvantnih točaka. Od optičkih svojstava određivani su optički energijski procjep i kvantna efikasnost te je zatim tražena njihova korelacija s izmjerenim strukturnim svojstvima.
amorfni poluvodiči ; nanokristalni poluvodiči ; solarna ćelija
nije evidentirano
engleski
Structural and optical properties of Si thin films
nije evidentirano
smorphous semiconductors ; nanocrystalline semiconductors ; solar cells
nije evidentirano
Podaci o izdanju
44
15.03.2007.
obranjeno
Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj
Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
Zagreb