Napredna pretraga

Pregled bibliografske jedinice broj: 440877

Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica,


Buljan, Maja; Desnica, Uroš V.; Radić, Nikola; Bogdanović Radović, Ivančica; Ivanda, Mile; Dražić, Goran; Karlušić, Marko; Dubček, Pavo; Salamon, K.; Holy, V.
Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica, // 6. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva : Knjiga sažetaka / Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 2009. str. 43-43 (predavanje, nije recenziran, sažetak, znanstveni)


Naslov
Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica,
(Structural properties of semiconductor nanoparticles)

Autori
Buljan, Maja ; Desnica, Uroš V. ; Radić, Nikola ; Bogdanović Radović, Ivančica ; Ivanda, Mile ; Dražić, Goran ; Karlušić, Marko ; Dubček, Pavo ; Salamon, K. ; Holy, V.

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni

Izvornik
6. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva : Knjiga sažetaka / Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor - Zagreb : Hrvatsko fizikalno društvo, 2009, 43-43

ISBN
978-953-7178-12-3

Skup
Znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva (6 ; 2009)

Mjesto i datum
Primošten, Hrvatska, 8.-11.10.2009

Vrsta sudjelovanja
Predavanje

Vrsta recenzije
Nije recenziran

Ključne riječi
Poluvodičke nanočestice; samoorganizirajuće Ge nanočestice; SiO2; GISAX
(Semiconductor nanoparticles; selforganizing Ge nanoparticles; SiO2; GISAX)

Sažetak
Istraživanje poluvodičkih nanočestica interesantno je iz temeljnih fi- zičkih razloga kao i zbog velikih mogućnosti primjene nanočestičnih materijala. Svojstva takvih materijala uvelike su određena veličinom, oblikom i prostornim rasporedom nanočestica u podlozi u kojoj su nanočestice pripremljene, te unutrašnjom strukturom i sastavom samih nanočestica te prisutnosti defekata u njihovoj kristalnoj strukturi. U predavanju ću izložiti najnovije metode priprave nanočestičnih materijala sa samoorganiziranim Ge nanočesticama u amorfnoj SiO2 podlozi, i metode detaljne karakterizacije dobivenih materijala bazirane na X-zračenju. Metode priprave uključuju formaciju prostorno uređenih Ge nanočestica pomoću ozračivanja Ge+SiO2 višeslojeva kisikovim ionima i posredstvom djelovanja mehanizma morfologije površine tijekom depozicije rasprašenjem u magnetronskom izvoru čestica [1, 2]. Metode karakterizacije uključuju analizu GISAXS (Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering) spektara i difrakcijskih spektara izmjerenih na nanočestičnim materijalima.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika



POVEZANOST RADA


Projekt / tema
098-0982886-2866 - Temeljna svojstva nanostruktura i defekata u poluvodičima i dielektricima (Branko Pivac, )
098-0982904-2898 - Fizika i primjena nanostruktura i volumne tvari (Mile Ivanda, )
098-1191005-2876 - Procesi interakcije ionskih snopova i nanostrukture (Milko Jakšić, )

Ustanove
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb