Utjecaj naprezanja na karakteristike skaliranih CMOS tranzistora (CROSBI ID 355074)
Ocjenski rad | diplomski rad
Podaci o odgovornosti
Žilak, Josip
Suligoj, Tomislav
Poljak, Mirko
hrvatski
Utjecaj naprezanja na karakteristike skaliranih CMOS tranzistora
Poluvodička industrija danas se susreće s ograničenjima daljnjeg skaliranja dimenzija tranzistora. Javlja se potreba za definiranjem novih tranzistorskih struktura i korištenjem novih materijala i metoda pri proizvodnji. Tehnologija napregnutog silicija predstavlja jednostavnu i jeftinu metodu kojom se mogu ostvariti poboljšanja osobina CMOS tranzistora koje zahtjeva skaliranje. Zbog toga se danas razvijaju različite metode uvođenja naprezanja u silicijsku strukturu. U ovom radu istraženi su neki izvori stresa, te je ispitan njihov utjecaj na električne karakteristike koje su uspoređene s karakteristikama standardnog tranzistora realiziranog u strukturi bez naprezanja. Istraženi su optimalni uvjeti naprezanja za n- kanalne i p- kanalne tranzistore u cilju maksimalnog povećanja struje.
MOSFET; CMOS; naprezanje; električke karakteristike
nije evidentirano
engleski
Influence of scaling on the characteristics of scaled CMOS transistors
nije evidentirano
MOSFET; CMOS; stress; electrical characteristics
nije evidentirano
Podaci o izdanju
87
16.07.2009.
obranjeno
Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj
Fakultet elektrotehnike i računarstva
Zagreb