Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Utjecaj naprezanja na karakteristike skaliranih CMOS tranzistora (CROSBI ID 355074)

Ocjenski rad | diplomski rad

Žilak, Josip Utjecaj naprezanja na karakteristike skaliranih CMOS tranzistora / Suligoj, Tomislav (mentor); Poljak, Mirko (neposredni voditelj). Zagreb, Fakultet elektrotehnike i računarstva, . 2009

Podaci o odgovornosti

Žilak, Josip

Suligoj, Tomislav

Poljak, Mirko

hrvatski

Utjecaj naprezanja na karakteristike skaliranih CMOS tranzistora

Poluvodička industrija danas se susreće s ograničenjima daljnjeg skaliranja dimenzija tranzistora. Javlja se potreba za definiranjem novih tranzistorskih struktura i korištenjem novih materijala i metoda pri proizvodnji. Tehnologija napregnutog silicija predstavlja jednostavnu i jeftinu metodu kojom se mogu ostvariti poboljšanja osobina CMOS tranzistora koje zahtjeva skaliranje. Zbog toga se danas razvijaju različite metode uvođenja naprezanja u silicijsku strukturu. U ovom radu istraženi su neki izvori stresa, te je ispitan njihov utjecaj na električne karakteristike koje su uspoređene s karakteristikama standardnog tranzistora realiziranog u strukturi bez naprezanja. Istraženi su optimalni uvjeti naprezanja za n- kanalne i p- kanalne tranzistore u cilju maksimalnog povećanja struje.

MOSFET; CMOS; naprezanje; električke karakteristike

nije evidentirano

engleski

Influence of scaling on the characteristics of scaled CMOS transistors

nije evidentirano

MOSFET; CMOS; stress; electrical characteristics

nije evidentirano

Podaci o izdanju

87

16.07.2009.

obranjeno

Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj

Fakultet elektrotehnike i računarstva

Zagreb

Povezanost rada

Elektrotehnika