Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Mesh Structure Adjustment in 2D Simulation of VLSI Super Self-Aligned Si Bipolar Transistor (CROSBI ID 473265)

Prilog sa skupa u zborniku | izvorni znanstveni rad | međunarodna recenzija

Suligoj, Tomislav ; Biljanović, Petar Mesh Structure Adjustment in 2D Simulation of VLSI Super Self-Aligned Si Bipolar Transistor // 1999 IEEE Africon. 1999. str. 1167-1172-x

Podaci o odgovornosti

Suligoj, Tomislav ; Biljanović, Petar

engleski

Mesh Structure Adjustment in 2D Simulation of VLSI Super Self-Aligned Si Bipolar Transistor

A fabrication process of high-speed, deep-trench, double polysilicon super self-aligned silicon bipolar transistor is simulated by 2D simulation program, assuming 0,25 *m design rules. The effect of simulation mesh on doping profiles of intrinsic and extrinsic transistor, deposited layers and electrical characteristics simulation model are analyzed.

fabrication process; super self-aligned silicon bipolar transistor; 2D simulation program; simulation mesh

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o prilogu

1167-1172-x.

1999.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

1999 IEEE Africon

Podaci o skupu

1999 IEEE Africon, 5Čth Africon Conference in Africa

predavanje

28.09.1999-01.10.1999

Cape Town, Južnoafrička Republika

Povezanost rada

Elektrotehnika