Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Mechanical spectroscopy of thin polystyrene films (CROSBI ID 146805)

Prilog u časopisu | izvorni znanstveni rad | međunarodna recenzija

Haramina, Tatjana ; Kirchheim, Reiner ; Tibrewala, Arti ; Peiner, Erwin Mechanical spectroscopy of thin polystyrene films // Polymer, 49 (2008), 8; 2115-2118. doi: 10.1016/j.polymer.2008.03.001

Podaci o odgovornosti

Haramina, Tatjana ; Kirchheim, Reiner ; Tibrewala, Arti ; Peiner, Erwin

engleski

Mechanical spectroscopy of thin polystyrene films

Mechanical spectroscopy is applied to thin polystyrene films of 7.5– 730 nm thickness spin coated on a thin silicon reed. Below a thickness of 100 nm, the a-relaxation peak (glass transition) broadens considerably and shifts to lower temperatures by a few degrees. These effects are attributed to a different polymer dynamics at the polymer/vacuum and the polymer/silicon interfaces.

Mechanical spectroscopy; thin film; glass transition

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o izdanju

49 (8)

2008.

2115-2118

objavljeno

0032-3861

10.1016/j.polymer.2008.03.001

Povezanost rada

Fizika

Poveznice
Indeksiranost