Svojstva poluvodičkih nanočestica u amorfnoj SiO2 matrici (CROSBI ID 350913)
Ocjenski rad | doktorska disertacija
Podaci o odgovornosti
Buljan, Maja
Desnica, Uroš V.
hrvatski
Svojstva poluvodičkih nanočestica u amorfnoj SiO2 matrici
U disertaciji prikazujemo istraživanje formiranja i fizičkih svojstava poluvodičkih nanočestica u amorfnoj SiO2 podlozi. Ispitivana su geometrijska obilježja formiranih nanočestica, što uključuje njihov oblik, veličinu, prostorni raspored, te njihovu unutarnju strukturu i kemijski sastav. Također su razmatrani efekti kvantnog zatočenja elektrona i fonona, i druga fizička svojstva. Ispitivane nanočestice su formirane metodama ionske implantacije i rasprašenja iz magnetronskog izvora čestica, a analizirane su primjenom nekoliko međusobno nadopunjujućih eksperimentalnih tehnika. Rezultati ispitivanja prikazuju formiranje nanočestica željenog kemijskog sastava, strukturnih svojstava i različitog stupnja prostorne korelacije. Za ispitivanje korelacija razvijena je nova metoda analize eksperimentalnih podataka. Posebna pažnja posvećena je opažanju spontanog samoorganiziranja Ge nanočestica u pravilne rešetke, poznate pod nazivom nanočestične superrešetke. Takve prostorno uređene strukture do sada su bile opažene i objašnjene jedino u kristalnim sustavima. Naši rezultati pokazuju mogućnost njihovog formiranja također i u amorfnim matricama, gdje su fizički uzroci koji vode do samo-uređenja potpuno drukčiji nego u kristalnim sustavima. Opaženi efekti su uspješno objašnjeni i simulirani jednostavnim Monte-Carlo modelom. Rezultati dalje prikazuju utjecaj prostorne korelacije na neka fizička svojstva nanočestica kao npr. njihove veličine, optička i luminiscentna svojstva, te pojavu kolektivnih efekata zbog pravilnog rasporeda u prostoru.
GISAXS; poluvodičke nanočestice; samoorganizacija; nanočestične superrešetke
nije evidentirano
engleski
Properties of semiconductor nanoparticles in amorphous SiO2 matrix
nije evidentirano
GISAXS; semiconductor nanoparticles; self-ordering; quantum dot superlattices
nije evidentirano
Podaci o izdanju
86
17.07.2008.
obranjeno
Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj
Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
Zagreb