hrvatski

Karakterizacija tankoslojnih solarnih ćelija deponiranih na staklenoj podlozi pomoću Impedancijske Spektroskopije(IS)

Ispitivana je mogućnost analize tankoslojnih solarnih ćelija Impedancijskom Spektroskopijom. U tu svrhu su mjerene impedancije jednostrukih i dvostrukih poluvodičkih p-i-n struktura deponiranih na staklu. Na temelju mjerenja, uzevši u obzir doprinos staklene podloge, određeni su parametri ekvivalentnog kruga koristeći Z-View program i metodu najmanjih kvadrata te korelirani sa modelom mjerenog sistema, p-i-n strukture na staklu. Relaksacioni procesi u postavljenom modelnom sustavu su analizirani pomoću Cole-Cole dijagrama a iz mjerenja na sobnoj temperaturi i na 373K ( temperaturno područje je ograničeno stabilnošću tankoslojne p-i-n strukture) procijenjena je srednja energija aktivacije (Ea) mjerenog sistema. Na temelju dobivenih rezultata i literaturnih podataka diskutirana je preciznost i svrsishodnost ovakvog načina karakterizaciji takoslojnih ćelija.

Impedancijska spektroskopija ; IS ; tanke solarne ćelije ; metoda kompleksnih kvadrata

nije evidentirano