Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Dependence of Deep Trap Recombination Coefficients on Temperature (CROSBI ID 463728)

Prilog sa skupa u zborniku | izvorni znanstveni rad | međunarodna recenzija

Divković-Pukšec, Julijana Dependence of Deep Trap Recombination Coefficients on Temperature // Proceedings of MIPRO "97 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan et al. (ur.). Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 1997. str. 1-4-x

Podaci o odgovornosti

Divković-Pukšec, Julijana

engleski

Dependence of Deep Trap Recombination Coefficients on Temperature

Measurements of the lifetime in the dependence of the current and of the temperature give us much interesting information. One of them is the temperature dependence of the capture coefficients. Measurements were made on a p^+pnn^+ structure into which various deep traps were added. The deep energy levels, associated with the traps lie over or under Fermi level. Those various positions are the cause of different behavior of lifetime with the injection level. For all observed cases the capture coefficients show strong dependence on temperature; as temperature raises the capture coefficients becomes smaller.

recombination; lifetime; deep traps; capture coefficients

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o prilogu

1-4-x.

1997.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan ; Budin, Leo

Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO

Podaci o skupu

MIPRO'97 - 20th International Convention

predavanje

19.05.1997-23.05.1997

Opatija, Hrvatska

Povezanost rada

Elektrotehnika