Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Proučavanje radijacijskih defekata u polikristaliničnom siliciju (CROSBI ID 347153)

Ocjenski rad | diplomski rad

Slunjski, Robert Proučavanje radijacijskih defekata u polikristaliničnom siliciju / Pivac, Branko (mentor); Tonejc, Antun (neposredni voditelj). Zagreb, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, . 2007

Podaci o odgovornosti

Slunjski, Robert

Pivac, Branko

Tonejc, Antun

hrvatski

Proučavanje radijacijskih defekata u polikristaliničnom siliciju

Proučavani su defekti uvedeni ozračivanjem 1 MeV protonskim snopom u polikristalinični silicij tipa EFG. Istraživana je interakcija defekata uvedenih zračenjem s prisutnim strukturnim defektima.

silicij; defekti; radijacioni defekti; DLTS

nije evidentirano

engleski

Study of radiation defects in polycrystalline silicon

nije evidentirano

silicon; defects; radiation defects; DLTS

nije evidentirano

Podaci o izdanju

59

27.03.2007.

obranjeno

Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj

Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb

Zagreb

Povezanost rada

Fizika