izvor podataka: crosbi
!
Electrically active defects in silicon and germanium induced by radiation (CROSBI ID 346381)
Ocjenski rad | doktorska disertacija
Capan, Ivana
Electrically active defects in silicon and germanium induced by radiation / Pivac, Branko (mentor);
Zagreb, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, . 2006
Podaci o odgovornosti
Capan, Ivana
Pivac, Branko
engleski
Electrically active defects in silicon and germanium induced by radiation
aa
silicon; germanium; defects; deep level transient spectroscopy
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
Podaci o izdanju
153
16.11.2006.
obranjeno
Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj
Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
Zagreb
Povezanost rada
Povezane osobe
Povezane ustanove
