Pretražite po imenu i prezimenu autora, mentora, urednika, prevoditelja

Napredna pretraga

Pregled bibliografske jedinice broj: 270239

Primjene PIXE metoda za analizu objekata kulturne baštine


Desnica, Vladan; Fazinić, Stjepko, Pastuović, Željko, Jakšić, Milko
Primjene PIXE metoda za analizu objekata kulturne baštine // Zbornik sažetaka 13. međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2006. (poster, nije recenziran, sažetak, znanstveni)


CROSBI ID: 270239 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca

Naslov
Primjene PIXE metoda za analizu objekata kulturne baštine
(Application of PIXE method for the analysis of objects of cultural heritage)

Autori
Desnica, Vladan ; Fazinić, Stjepko, Pastuović, Željko, Jakšić, Milko

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni

Izvornik
Zbornik sažetaka 13. međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika / Radić, Nikola - Zagreb, 2006

Skup
13. međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika

Mjesto i datum
Koprivnica, Hrvatska, 13.06.2006

Vrsta sudjelovanja
Poster

Vrsta recenzije
Nije recenziran

Ključne riječi
PIXE; ionski snop; XRF
(PIXE; external beam; XRF)

Sažetak
Aktivnosti Laboratorija za interakcije ionskih snopova na Institutu Ruđer Bošković u području istraživanja objekata kulturne baštine traju već 20-tak godina, pri čemu se od metoda analize ionskim snopovima najviše koristi PIXE (Particle Induced X-Ray Emission) sa standardnim snopom i nuklearna mikroproba. Uz nedestruktivnost, univerzalnost primjene ovih metoda pokazana je na nizu provedenih istraživanja na različitim vrstama uzoraka. Najnovije primjene uključuju karakterizaciju metalnih niti s crkvenog ruha iz 17. stoljeća, analizu anorganskih pigmenata slikara Hansa Georga Gaigera, proučavanje porijekla i elementne distribucije u glazurama kineske keramike Tang Sancai te analizu uzoraka metala antičke skulpture Apoxyomenos. Nadalje, u Laboratoriju je u tijeku izgradnja nove izlazne stanice snopa iona koja će omogućiti kako nedestruktivnu, tako i neinvazivnu analizu objekata na zraku (external line PIXE). U tu svrhu, pomoću tankih izlaznih prozora ionski snop se tik pred metom izvlači iz vakuumiranog okruženja, što omogućuje analizu niza raznolikih predmeta, neovisno o njihovoj veličini ili obliku. U slučaju da su objekti preveliki ili preosjetljivi da bi se prenjeli u laboratorij te za potrebe preliminarnih elementnih karakterizacija na terenu koristi se prijenosni uređaj za analizu rengenskom fluorescencijom (XRF).

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika



POVEZANOST RADA


Projekti:
0098013

Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb

Profili:

Avatar Url Vladan Desnica (autor)

Avatar Url Stjepko Fazinić (autor)


Citiraj ovu publikaciju:

Desnica, Vladan; Fazinić, Stjepko, Pastuović, Željko, Jakšić, Milko
Primjene PIXE metoda za analizu objekata kulturne baštine // Zbornik sažetaka 13. međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2006. (poster, nije recenziran, sažetak, znanstveni)
Desnica, V. & Fazinić, Stjepko, Pastuović, Željko, Jakšić, Milko (2006) Primjene PIXE metoda za analizu objekata kulturne baštine. U: Radić, N. (ur.)Zbornik sažetaka 13. međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika.
@article{article, editor = {Radi\'{c}, N.}, year = {2006}, pages = {27}, keywords = {PIXE, ionski snop, XRF}, title = {Primjene PIXE metoda za analizu objekata kulturne ba\v{s}tine}, keyword = {PIXE, ionski snop, XRF}, publisherplace = {Koprivnica, Hrvatska} }
@article{article, editor = {Radi\'{c}, N.}, year = {2006}, pages = {27}, keywords = {PIXE, external beam, XRF}, title = {Application of PIXE method for the analysis of objects of cultural heritage}, keyword = {PIXE, external beam, XRF}, publisherplace = {Koprivnica, Hrvatska} }




Contrast
Increase Font
Decrease Font
Dyslexic Font