hrvatski

Primjene PIXE metoda za analizu objekata kulturne baštine

Aktivnosti Laboratorija za interakcije ionskih snopova na Institutu Ruđer Bošković u području istraživanja objekata kulturne baštine traju već 20-tak godina, pri čemu se od metoda analize ionskim snopovima najviše koristi PIXE (Particle Induced X-Ray Emission) sa standardnim snopom i nuklearna mikroproba. Uz nedestruktivnost, univerzalnost primjene ovih metoda pokazana je na nizu provedenih istraživanja na različitim vrstama uzoraka. Najnovije primjene uključuju karakterizaciju metalnih niti s crkvenog ruha iz 17. stoljeća, analizu anorganskih pigmenata slikara Hansa Georga Gaigera, proučavanje porijekla i elementne distribucije u glazurama kineske keramike Tang Sancai te analizu uzoraka metala antičke skulpture Apoxyomenos. Nadalje, u Laboratoriju je u tijeku izgradnja nove izlazne stanice snopa iona koja će omogućiti kako nedestruktivnu, tako i neinvazivnu analizu objekata na zraku (external line PIXE). U tu svrhu, pomoću tankih izlaznih prozora ionski snop se tik pred metom izvlači iz vakuumiranog okruženja, što omogućuje analizu niza raznolikih predmeta, neovisno o njihovoj veličini ili obliku. U slučaju da su objekti preveliki ili preosjetljivi da bi se prenjeli u laboratorij te za potrebe preliminarnih elementnih karakterizacija na terenu koristi se prijenosni uređaj za analizu rengenskom fluorescencijom (XRF).

PIXE; ionski snop; XRF

nije evidentirano