Napredna pretraga

Pregled bibliografske jedinice broj: 270218

TOF-ERDA spektrometar na 6.0 Tandem akceleratoru - prvi rezultati


Bogdanović Radović, Ivančica; Siketić, Zdravko; Skukan, Natko; Medunić, Zvonko; Bogovac, Mladen; Jakšić, Milko
TOF-ERDA spektrometar na 6.0 Tandem akceleratoru - prvi rezultati // Zbornik sažetaka 13. međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2006. (poster, nije recenziran, sažetak, znanstveni)


Naslov
TOF-ERDA spektrometar na 6.0 Tandem akceleratoru - prvi rezultati
(TOF-ERDA spectrometer on 6.0 Tandem accelerator - first results)

Autori
Bogdanović Radović, Ivančica ; Siketić, Zdravko ; Skukan, Natko ; Medunić, Zvonko ; Bogovac, Mladen ; Jakšić, Milko

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni

Izvornik
Zbornik sažetaka 13. međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika / Radić, Nikola - Zagreb, 2006

Skup
13. međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika

Mjesto i datum
Koprivnica, Hrvatska, 13.06.2006

Vrsta sudjelovanja
Poster

Vrsta recenzije
Nije recenziran

Ključne riječi
TOF-ERDA; teški ioni; dubinska rezolucija; masena rezolucija
(TOF-ERDA; heavy ions; depth resolution; mass resolution)

Sažetak
Na Institutu Ruđer Bošković u Laboratoriju za interakcije ionskih snopova upravo je dovršena gradnja TOF-ERDA (Time-of-Flight Elastic Recoil Detection Analysis) spektrometra. Spektrometar se sastoji od dvije vremenske stanice s MCP detektorima međusobno udaljene 52.5 cm, te čestičnog detektora. Ulazni ion u sudaru s metom izbija lakše atome iz mete koji ulaze u TOF ERDA spektrometar smješten pod kutem od 37.5º prema ulaznom snopu. Vrijeme koje je potrebno ionu da dođe od prve do druge vremenske stanice definira se kao vrijeme proleta dok se energija iona registrira u čestičnom detektoru na kraju putanje. Na taj način su signali detektiranih izbijenih čestica (elemenata) sasvim izdvojeni u dvodimenzionalnim spektrima. Prvi testovi sistema pokazuju da je vremenska rezolucija spektrometra približno 300 ps, te da je masena razlučljivost 1 amu. Dubinsko razlučivanje znatno ovisi o promjenljivim geometrijskim parametrima, te vrsti i energiji upotrebljenog ionskog snopa. Kod prvih mjerenja načinjenih s 25 MeV snopom 36Cl iona, dubinska razlučivost za sve elemente u siliciju bila je bolja od 5 nm. Prikazat ćemo prve spektre višeelementnih i višeslojnih uzoraka.

Izvorni jezik
Engleski

Znanstvena područja
Fizika



POVEZANOST RADA