Pretražite po imenu i prezimenu autora, mentora, urednika, prevoditelja

Napredna pretraga

Pregled bibliografske jedinice broj: 268045

Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija


Liović, Tomislav
Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija, 2005., diplomski rad, Elektrotehnički fakultet, Osijek


CROSBI ID: 268045 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca

Naslov
Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija
(Problems of signal integrity at sub-micronic microelectrinic manufacturing technology)

Autori
Liović, Tomislav

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad

Fakultet
Elektrotehnički fakultet

Mjesto
Osijek

Datum
09.03

Godina
2005

Stranica
62

Mentor
Švedek, Tomislav

Ključne riječi
šum; integritet; IR-pad napona; signal
(noise; integrity; IR-voltage drop; signal)

Sažetak
Ovaj diplomski rad se bavi problemima integriteta signala, te načinima njihovog uklanjanja u mikroelektroničkim sklopovima u submikronskom području. Integritet signala uključuje pojave kao što su šum preslušavanja, elektromigracija i IR- pad napona na vodovima napajanja, te signalnim vodovima. Te su pojave to izraženije što je viši stupanj integracije, frekvencija rada sklopa i što su manje minimalne dimenzije komponenata.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Elektrotehnika



POVEZANOST RADA


Projekti:
0165112 - Digitalna radiodifuzija u frekvencijskim opsezima ispod 30 MHz (Švedek, Tomislav, MZOS ) ( POIROT)

Ustanove:
Fakultet elektrotehnike, računarstva i informacijskih tehnologija Osijek

Profili:

Avatar Url Tomislav Švedek (mentor)

Citiraj ovu publikaciju

Liović, Tomislav
Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija, 2005., diplomski rad, Elektrotehnički fakultet, Osijek
Liović, T. (2005) 'Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija', diplomski rad, Elektrotehnički fakultet, Osijek.
@phdthesis{phdthesis, author = {Liovi\'{c}, T.}, year = {2005}, pages = {62}, keywords = {noise, integrity, IR-voltage drop, signal}, title = {Problems of signal integrity at sub-micronic microelectrinic manufacturing technology}, keyword = {noise, integrity, IR-voltage drop, signal}, publisherplace = {Osijek} }




Contrast
Increase Font
Decrease Font
Dyslexic Font