hrvatski

Ovisnost supravodljivih parametara o debljini filma niobija (Nb)

Mjerene su kritične temperature supravodljivog prijelaza (Tc) i vrijednosti kritičnih polja ( ) za filmove niobija debljine 10 nm, 40 nm, 160 nm i za monokristal debljine 0.5 mm. Za debele uzorke temperatura prijelaza je 9.3 K, dok se redukcijom dimenzionalnosti uzorka smanjuje i temperatura prijelaza ovisno o odnosu debljine uzorka, duljine koherencije i srednjeg slobodnog puta elektrona . Usporedbom rezultata mjerenja s rezultatima drugih autora pokazuje se kako se radi o uzorcima koji su kvalitetniji od dosad objavljenih u literaturi. Za razliku od kritične temperature , vrijednost kritičnog polja raste kako se smanjuje debljina uzorka. Iz izmjerenih vrijednosti temperature prijelaza i kritičnog polja, određen je niz supravodljivih parametara koji opisuju dane uzorke. Također je pomoću njih provjerena konzistentnost izmjerenih vrijednosti za polje u okomitoj i paralelnoj orijentaciji, te je prikazana usporedba s teorijskim predviđanjima koja slijede iz GL teorije za tanke filmove.

supravodljivost; tanki film; mikrovalovi

Rad je nagrađen Rektorovom nagradom Sveučilišta u Zagrebu 2004. godine