Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Grazing-incident small-angle X-ray scattering (GISAXS) study of SiO/SiO2 superlattice (CROSBI ID 510580)

Prilog sa skupa u zborniku | izvorni znanstveni rad | međunarodna recenzija

Pivac, Branko ; Kovačević, Ivana ; Dubček, Pavo ; Zorc, Hrvoje ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid Grazing-incident small-angle X-ray scattering (GISAXS) study of SiO/SiO2 superlattice // Proceedings of the First International Workshop on Semiconductor Nanocrystals, SEMINANO 2005, Vol. 1 / Podor, Balint ; Horvath, Zsolt J. ; Basa Peter (ur.). Budimpešta: Hungarian Academy of Sciences (MTA), 2005. str. 144-146-x

Podaci o odgovornosti

Pivac, Branko ; Kovačević, Ivana ; Dubček, Pavo ; Zorc, Hrvoje ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid

engleski

Grazing-incident small-angle X-ray scattering (GISAXS) study of SiO/SiO2 superlattice

In this apper we present a study of annealing effects on amorphous SiO/SiO2 superlattice using grazing-incidence small-angle X-ray scattering (GISAXS).

SiO/SiO2; superlattice; GISAXS

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o prilogu

144-146-x.

2005.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

Proceedings of the First International Workshop on Semiconductor Nanocrystals, SEMINANO 2005, Vol. 1

Podor, Balint ; Horvath, Zsolt J. ; Basa Peter

Budimpešta: Hungarian Academy of Sciences (MTA)

Podaci o skupu

First International Workshop on Semiconductor Nanocrystals : SEMINANO 2005

poster

10.09.2005-12.09.2005

Budimpešta, Mađarska

Povezanost rada

Fizika