hrvatski

Visoko razlučiva spektroskopija X-zraka induciranih ionima MeV-skih energija

Cilj ovog rada bio je razvoj i ispitivanje mogućnosti spektrometra za visoko razlučivu PIXE spektroskopiju. Osnovni dijelovi ovog spektrometarskog sustava su ravni LiF(220) kristal koji služi kao disperzijski element, te pozicijsko osjetljivi proporcionalni brojač (PSPC) kućne izrade koji služi kao detektor X-zračenja. Ispitana je pozicijska razlučivost detektora u ovisnosti o raznim parametrima njegova rada i određene su optimalne vrijednosti tih parametara za koje je postignuta najbolja razlučivost. Razvijeni spektrometarski sustav korišten je u istraživanju fine strukture zračenja iz vanadija i nekih njegovih spojeva. U izmjerenim spektrima su jasno razlučeni radijativni doprinosi drugog reda: spektralne linije Kb5, Kb', Kb'' i Kb'''. Intenziteti i energije tih linija iščitane su iz izmjerenih spektara i iskazane relativno prema intenzitetu i energiji Kb1, 3 linije. Pokazan je utjecaj kemijskog okoliša (oksidacijsko stanje vanadija) na navedene veličine. Rezultati ukazuju da se razvijeni spektrometarski sustav može koristiti u eksperimentima analize kemijskog stanja.

HR-PIXE; X-zračenje; visoko razlučiva spektroskopija; PSPC; kemijski efekti; Kb spektar; vanadij

nije evidentirano