hrvatski

Analiza topografije površine primjenom mikroskopa atomskih sila

Mikroskop atomskih sila (engl. Atomic Force Microscope – AFM) pripada grupi mikroskopa s ticalima. AFM radi na principu raster skeniranja uzoraka. Skeniranje se provodi oštrim vrhom ticala koje, ovisno o odabranom načinu rada, dotiče ili prolazi veoma blizu površine predmeta koji se ispituje. Ispitivanje površine AFM-om ne traži posebnu pripremu uzorka koji se ispituje, a rezultat ispitivanja strukture površine do razine atoma dan je 3D prikazom. Mikroskopi atomskih sila pogodni su za ispitivanje površine materijala, atoma i molekula, individualnih makromolekula te bioloških podvrsta. U prvom dijelu rada navedene su metode i uređaji koji se koriste za analizu topografije površine. U drugom dijelu rada pobliže je opisan AFM, prikazane su metode rada AFM-a i navedeni primjeri za svaku od metoda. Na posljetku, primjenom mikroskopa atomskih sila, napravljena analiza topografije površine odabranih uzoraka i etalona. Pri izradi ovog rada, za analizu i obradu topografija površina korišten je program Mountains SPIP (probna verzija).

AFM, topografija površine, hrapavost

nije evidentirano